Система за изпитване на пространствена резолюция LIBS в микронен мащаб - MEEPLIBS
MEEPLIBS може да направи елементарен анализ на пространствена резолюция в микронен мащаб, постигане на комбинация с традиционния микроскоп реализиране *, стандартен аналитичен калибър с размери от 15 микрона и 18 микрона (zui може да се постигне до 4 микрона), може да бъде тестван в атмосферна среда при стайна температура или да бъде тестван в специфична среда.
Широко се използва за анализ на елементи в реално време с пространствена резолюция в микронен мащаб на полупроводникови материали и панелни материали.
Характеристики на системата:
Източник на светлина: 266nm ултравиолетова лазерна светлина
Функция за формация на лазерен лъч с амбулатор, регулируема софтуерна мощност на лазера
Автоматично регулиране на температурата на системата за откриване
Камера в системата, която позволява на потребителя да наблюдава областта на пробата в реално време
Конфигуриране на електрически триизмерни регулатори за калибриране на лазерното фокусиране, подобряване на точността на повторяемостта на експеримента и последователно измерване на проби
Може да анализира измерването на всички елементи, включително маса Zui Light
Без предварителна обработка на пробата, бързо откриване